LS 13 320 XR Partikelgrößenmessgerät

Viele Verbesserungen um kleine Unterschiede zu messen.

Der neue LS 13 320 XR bedeutet Laserbeugung auf höchstem Niveau. Mit einem erweiterten Messbereich und einer optimierten PIDS Technology bietet der LS 13 320 XR reale Partikeldetektion von 10 nm – 3.500 µm in Suspensionen, Emulsionen und Pulvern. 132 Detektoren bieten hochauflösende Messungen und perfekt reproduzierbare Ergebnisse. Die Partikelanalyse wird aufgrund einer intuitiven Software noch effizienter. Dank konfigurierter SOPs werden Partikeldaten mit nur zwei Klicks analysiert und Datenexporte erstellt. Benutzerdefinierte Methoden ermöglichen eine schnelle, akkurate und reproduzierbare Partikelanalyse für jeden Nutzer.

  • Messbereich: 10 nm - 3.500 µm
  • Reale Partikeldetektion bis 10 nm durch erweiterte PIDS Technologie
  • Automatisch visualisierte Spezifikationskontrolle
  • Start einer Messung mit nur zwei Klicks
  • Datenexporte mit nur einem Klick

 

Choose a Model

Tech Docs Part Number Product Name Weight Height Power Requirements Listenpreis Kaufen

-

23.50|kg / 51.8086316134462|lb
49.53|cm / 19.5|in
6A at 90-125 VAC, 3 A at 220-240 VAC

-

Eigenschaften

Geräteeigenschaften

  • Erweiterter Messbereich: 10 nm – 3.500 µm
  • Analyse von Suspensionen, Emulsionen und Pulvern
  • Laserbeugung und erweiterte PIDS Technology ermöglichen hochauflösende Messungen mit realer Partikeldedektion bis 10 nm
  • Größenklassen: 129 Messkanäle für eine sehr hohe Auflösung
  • Detektoren: 132 Elemente im Winkelbereich von 0 bis 135°
  • Lichtquelle:785nm Laserdiode für extreme Langlebigkeit
  • Akkurate und reproduzierbare Messung von verschiedenen Partikelgrößen in einer Probe

Intuitive Software

  • Konfigurierten Methoden (SOPs) ermöglichen Messergebnis mit nur 2 Klicks
  • Einfache Bedienung für erfahrene und unerfahrene Nutzer
  • Überlagerung von historischen Daten mit nur einem Klick
  • Automatisch visualisierte Spezifikationskontrolle

 

21 CFR Part 11 konform

  • Benutzerdefiniertes Sicherheitssystem
  • 4 verschiedene Benutzerebenen
  • Sicherheitskonfigurationen unterstützen 21 CFR Part 11 Konformität

Patentierte PIDS (Polarization Intensity Differential Scattering)-Technolgie für Analyse von Materialen im Submikron-Bereich

  • Polarization Intensity Differential Scattering – Nutzung von polarisiertem Streulicht mit 36 zusätzlichen Datenpunkten
  • Messung unter drei verschiedenen Wellenlängen: 475 nm, 613 nm und 900 nm
  • Ermöglicht sogar die Auftrennung von 80nm, 200nm und 500nm PSL-Fraktionen in einer Probe

 

Product Specifications

Light Source Diffraction: Solid-state (780 nm) PIDS: Tungsten lamp with high-quality band-pass filters (450, 600 and 900 nm)
Particle Size Analysis Range 10 nm|3500µm|
Reporting PDF, Excel
Item Specifications Referenced B98100

Documentation

  • Filter by:

Technische Dokumente